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电子连接器(也常被称为电路连接器，电连接器)，将一个回路上的两个导体桥接起来,使得电流或者讯号可以从一个导体流向另一个导体的导体设备。电子连接器是一种电机系统，其可提供可分离的界面用以连接两个次电子系统，简单的说，用以完成电路或电子机器等相互间电器连接之元件成为连接器亦即两者之间的桥梁。
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电子连接器(也常被称为电路连接器，电连接器)，将一个回路上的两个导体桥接起来,使得电流或者讯号可以从一个导体流向另一个导体的导体设备。它广泛地应用于各种电气线路中，起着连接或断开电流或者信号的作用。这种连接可能是暂时并方便随时插拔的，也可能是电气设备或导线之间永久的结点。
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电子连接器是传输电子信号的装置(类比信号或数位信号)，可提供分离的界面用以连接两个次电子系统，是用以完成电路或电子机器等相互间电气连接的元件。如:电源插头/插座、IC脚座、电话线插头等皆是。广泛应用于电子工业。: c; y+ q! R5 s! F. y: @
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电子连接器是一种电机系统，其可提供可分离的界面用以连接两个次电子系统，简单的说，用以完成电路或电子机器等相互间电器连接之元件成为连接器亦即两者之间的桥梁。
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电子连接器可作为电路间，组件间，系统间电气/电子传输连接部件，使功率，信号，电流能稳定可靠的流通，又方便产品组装，维修，更换。
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/ J& m: L: _" Y" v连接器测试一般涉及以下几个项目：插拔力测试、耐久性测试、 绝缘电阻测试、耐电压测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等
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连接器具体测试项目如下：
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& w* T6 z. q6 G ]+ Z（一）插拔力测试
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参考标准：EIA-364-13/ X4 D+ [/ A' H
( J, i" u2 Q1 q, H, h" P. Y8 X4 t* n
目的：验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求
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! S; {) Z+ v/ E$ r原理：将连接器按规定速率进行完全插合或拔出，记录相应的力值* F* y' w( p4 ]( c: D4 Q1 }1 G
5 n- Y5 W% X+ `! u$ L# g0 t F（二）耐久性测试 m. T! }+ Q+ x* N4 `8 _
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参考标准：EIA-364-097 ?! [$ w/ a- N. @% @) C
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目的：评估反复插拔对连接器的影响，模拟实际使用中连接器的插拔状况
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原理：按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。
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（三）绝缘电阻测试
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参考标准：EIA-364-21
4 O4 ~) X4 G: d8 j$ G. L' c
$ W9 `. @9 {6 d目的：验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温，潮湿等环境应力时，其阻值是否符合有关技术条件的规定。
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原理：在连接器的绝缘部分施加电压，从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。1 T5 p! J( L- f
* h" S: Q |/ E$ i3 Z% Q（四）耐电压测试& h" d7 B) n" M0 t0 b$ Q# ~
6 z e3 Z* Z9 [. X, ?# E& z5 Z
参考标准：EIA-364-20
! E+ X1 D' B- N8 ] M1 x9 ^3 b# n3 H6 E/ _0 Z. k& }
目的：验证连接器在额定电压下是否能安全工作，能否耐受过电位的能力，从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适
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原理：在连接器接触件与接触件之间，接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间，观察样品是否有击穿或放电现象。, p1 `, _8 O q4 e- P" H3 A
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（五）接触电阻测试; Z7 N% O+ u8 h0 L3 D& `
+ ]+ J" {; N! i/ ~. x
参考标准：EIA-364-06/EIA-364-23
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* Z0 _& W" o& |! G$ h目的：验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值
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- I# [# T4 Z# J9 K5 p) h原理：通过对连接器通规定电流，测量连接器两端电压降从而得出电阻值) L8 x4 U# a) h: W
% J9 E# k4 T0 D2 J/ Z3 U' |7 k( a/ Z（六）振动测试：
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参考标准：EIA-364-282 z1 @& S1 ]1 m u/ t
3 h' a" c0 B$ L' j* K. i# X! Y
目的：验证振动对电连接器及其组件性能的影响
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振动类型：随机振动，正弦振动, G z+ m- w8 C# U% `+ w( h* H9 b
: f* Y1 T# n" ]( X
（七）机械冲击测试
- q& i" Y v/ M3 a% ^+ v
" Y8 M8 f ~1 l参考标准：EIA-364-27. K) ?% ?9 Q3 P5 z* o5 Z k
" u b/ V, S5 |$ L4 |5 J
目的：验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固0 x: s6 k9 \; C f( M P
5 c2 O9 A- r+ t5 q* ]) g( Z
测试波形：半正弦波，方波& o- z! Y( C5 S: ^, m) W- f& g7 z
. K/ @' w c# x( S
（八）冷热冲击测试
9 A' b3 R/ n5 U, I' U: n
8 _- m! j" \ L9 @参考标准：EIA-364-32
8 A' Z' b' i( a: g U, Q. s" ~- v
目的：评估连接器在急速的大温差变化下，对于其功能品质的影响0 Y! W) a1 C/ n6 ~- ?
! E1 j+ v* A4 O. w& {( a" y7 _/ X# O
（九）温湿度组合循环测试
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3 m- k; x" o v* ~参考标准：EIA-364-31
6 B; d8 d; f3 }3 a" _% a3 F0 B/ F
目的：评估连接器在经过高温高湿环境储存后对连接器性能的影响. o3 t# o% o* ^7 `# B
7 _: r# l8 i3 ]3 X
（十）高温测试 w0 l+ F7 x2 U
" [: G2 i9 w9 u, l参考标准：EIA-364-17
3 i! k* v2 q- f5 l4 J& b( J! U( h
目的：评估连接器暴露在高温环境中于规定时间后端子和绝缘体性能是否发生变化5 j/ Y X4 f ~2 M6 y! \+ J- D
/ {( u6 k7 Z6 l2 x" ~ {4 _" Z（十一）盐雾测试 ^) G6 J; @9 g8 [% t
- l5 h& Y) X0 i0 k4 G$ _1 T参考标准：EIA-364-26
+ o4 {% o5 V; w6 @5 J) z9 r+ n! ?! t8 w+ Z5 j3 K
目的：评估连接器，端子，镀层耐盐雾腐蚀能力2 C. T4 B4 h; f
, t' t- D9 m/ q（十二）混合气体腐蚀测试& F5 D0 B& _& g1 w
6 h$ q' g C3 F: p. O" M参考标准：EIA-364-65
" Z: a) w; I$ x" o
" ?5 u4 c% r4 D* c, S4 }目的：评估连接器暴露在不同浓度混合气体中的耐腐蚀能力及对其性能的影响/ b1 E- k+ N9 F
1 {/ K- | Z. h6 e3 I( Y（十三）线材摇摆测试 |
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发表于 2006-11-22 17:38:00
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